特長
- DLA SMD 5962-11212
- Output current up to 3.0A at TJ = +150°C
- Output accuracy ±1.5% over MIL temperature range
- Ultra low dropout:
- 65mV (typical) dropout at 1.0A
- 225mV (typical) dropout at 3.0A
- SET mitigation with no added filtering/diodes
- Input supply range: 2.2V to 6.0V
- Fast load transient response
- Shutdown current of 1μA (typical)
- Output adjustable using external resistors
- PSRR 66dB (typical) at 1kHz
- Enable and PGood feature
- Programmable soft-start/inrush current limiting
- Over-temperature shutdown and programmable OCP limits
- Stable with 47μF min tantalum capacitor
- Radiation environment
- High dose rate (50-300rad(Si)/s): 100krad(Si)
- Low dose rate (0.01rad(Si)/s): 100krad(Si)*
*Product capability established by initial characterization. The "EH" version is acceptance tested on a wafer-by-wafer basis to 50 krad(Si) at low dose rate.
説明
Support is limited to customers who have already adopted these products.
The ISL75051SEH, ISL75051SRH are radiation hardened low-voltage, high-current, single-output LDOs specified for up to 3. 0A of continuous output current. These devices operate over an input voltage range of 2. 2V to 6. 0V and are capable of providing output voltages of 0. 8V to 5. 0V adjustable, based on resistor divider setting. Dropout voltages as low as 65mV can be realized using the device. The OCP pin allows the short-circuit output current limit threshold to be programmed by means of a resistor from the OCP pin to GND. The OCP setting range is from 0. 5A minimum to 8. 5A maximum. The resistor sets the constant current threshold for the output under fault conditions. The thermal shutdown disables the output if the device temperature exceeds the specified value. It subsequently enters an ON/OFF cycle until the fault is removed. The ENABLE feature allows the part to be placed into a low current shutdown mode that typically draws about 1μA. These devices are optimized for fast transient response and single event effects. This reduces the magnitude of SET seen on the output. Additional protection diodes and filters are not needed. These devices are stable with tantalum capacitors as low as 47μF and provide excellent regulation all the way from no load to full load. Programmable soft-start allows the user to program the inrush current by means of the decoupling capacitor value used on the BYP pin.
アプリケーション
- LDO Regulator for Space Application
- DSP, FPGA and µP Core Power Supplies
- Post-regulation of Switched Mode Power Supplies
- Down-hole Drilling
| Part Number | Status | Samples | Stock | Package | Lead Count (#) | Carrier Type | DLA SMD | Pb (Lead) Free | MOQ | Temp. Range (°C) |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| ISL75051SRHF/PROTO | Obsolete | N/A | Out of Stock | CFP | 18# | Tray | No | 1 | -55 to +125°C | |
| ISL75051SRHQF | Obsolete | N/A | Out of Stock | CFP | 18# | Tray | 5962-11212 | No | 15 | -55 to +125°C |
| ISL75051SRHVF | Obsolete | N/A | Out of Stock | CFP | 18# | Tray | 5962-11212 | No | 15 | -55 to +125°C |
- レポート英語PDF 340 KB TR043 2026年5月28日
- PCB設計ファイル英語PDF 98 KB virtex5mezpwrev1z_reva_schematics 2017年11月17日
- PCB設計ファイル英語ZIP 328 KB virtex5mezpwrev1z_reva_artwork 2017年11月17日
- 製品アラート通知英語PDF 235 KB PAN17022 2017年5月26日
- モデル-SPICE英語
- レポート英語PDF 325 KB isl75051srh_tid_report_2col_100k_jul2012 2012年8月16日
- アプリケーションノート英語PDF 304 KB an1947 2009年1月05日AI生成コンテンツ: The document outlines important legal disclaimers and usage guidelines for semiconductor products. It emphasizes user responsibility for product design and safety, disclaims liability for damages from improper use, and restricts unauthorized modifications. Products are categorized into Standard and High Quality grades with specific application scopes. Users must comply with laws, regulations, and safety measures, especially for high-risk applications. Contact information for Renesas Electronics sales offices worldwide is provided.
- アプリケーションノート英語PDF 224 KB an9654 1999年5月05日AI生成コンテンツ: The document explains the reliability and failure mechanisms of semiconductor parts, focusing on life testing and wearout. It discusses how switching states cause transient current pulses and hot carrier injection, which only occur briefly during switching. Life testing at elevated temperatures accelerates aging to remove infant mortality failures, improving reliability. The failure rate follows a bathtub curve with infant mortality, useful life, and wearout phases, modeled by lognormal and exponential distributions. The Arrhenius equation relates failure rates at different temperatures. Burn-in and life tests reduce early failures without harming intrinsic reliability.
推奨ドキュメント (1)
データシート (1)
マニュアル、ガイド (2)
- アプリケーションノート英語PDF 304 KB an1947 2009年1月05日AI生成コンテンツ: The document outlines important legal disclaimers and usage guidelines for semiconductor products. It emphasizes user responsibility for product design and safety, disclaims liability for damages from improper use, and restricts unauthorized modifications. Products are categorized into Standard and High Quality grades with specific application scopes. Users must comply with laws, regulations, and safety measures, especially for high-risk applications. Contact information for Renesas Electronics sales offices worldwide is provided.
- アプリケーションノート英語PDF 224 KB an9654 1999年5月05日AI生成コンテンツ: The document explains the reliability and failure mechanisms of semiconductor parts, focusing on life testing and wearout. It discusses how switching states cause transient current pulses and hot carrier injection, which only occur briefly during switching. Life testing at elevated temperatures accelerates aging to remove infant mortality failures, improving reliability. The failure rate follows a bathtub curve with infant mortality, useful life, and wearout phases, modeled by lognormal and exponential distributions. The Arrhenius equation relates failure rates at different temperatures. Burn-in and life tests reduce early failures without harming intrinsic reliability.
アプリケーションノート、ホワイトペーパー (2)
- 製品アラート通知英語PDF 235 KB PAN17022 2017年5月26日
製品通知(PCN、EOLなど) (2)
No Results Found.
入力するワードを減らしてみたり、異なるワード、あるいはより一般的なワードを入力してみましょう。
フィルターを適用している場合、フィルターの範囲を見直してみてより広く検索結果が反映される様にしてみましょう。
- ナレッジベースを検索してみましょう。FAQにより、お客様をサポートいたします。
- ルネサスの技術スタッフやコミュニティからのヘルプをサポートフォーラムから受けられます。
No Results Found.
入力するワードを減らしてみたり、異なるワード、あるいはより一般的なワードを入力してみましょう。
フィルターを適用している場合、フィルターの範囲を見直してみてより広く検索結果が反映される様にしてみましょう。
- ナレッジベースを検索してみましょう。FAQにより、お客様をサポートいたします。
- ルネサスの技術スタッフやコミュニティからのヘルプをサポートフォーラムから受けられます。
- PCB設計ファイル英語PDF 98 KB virtex5mezpwrev1z_reva_schematics 2017年11月17日
- PCB設計ファイル英語ZIP 328 KB virtex5mezpwrev1z_reva_artwork 2017年11月17日
図、設計ファイル (4)
No Results Found.
入力するワードを減らしてみたり、異なるワード、あるいはより一般的なワードを入力してみましょう。
フィルターを適用している場合、フィルターの範囲を見直してみてより広く検索結果が反映される様にしてみましょう。
- ナレッジベースを検索してみましょう。FAQにより、お客様をサポートいたします。
- ルネサスの技術スタッフやコミュニティからのヘルプをサポートフォーラムから受けられます。
No Results Found.
入力するワードを減らしてみたり、異なるワード、あるいはより一般的なワードを入力してみましょう。
フィルターを適用している場合、フィルターの範囲を見直してみてより広く検索結果が反映される様にしてみましょう。
- ナレッジベースを検索してみましょう。FAQにより、お客様をサポートいたします。
- ルネサスの技術スタッフやコミュニティからのヘルプをサポートフォーラムから受けられます。
No Results Found.
入力するワードを減らしてみたり、異なるワード、あるいはより一般的なワードを入力してみましょう。
フィルターを適用している場合、フィルターの範囲を見直してみてより広く検索結果が反映される様にしてみましょう。
- ナレッジベースを検索してみましょう。FAQにより、お客様をサポートいたします。
- ルネサスの技術スタッフやコミュニティからのヘルプをサポートフォーラムから受けられます。
マーケティング資料 (1)
- レポート英語PDF 340 KB TR043 2026年5月28日
- レポート英語PDF 325 KB isl75051srh_tid_report_2col_100k_jul2012 2012年8月16日
その他資料 (5)
No Results Found.
入力するワードを減らしてみたり、異なるワード、あるいはより一般的なワードを入力してみましょう。
フィルターを適用している場合、フィルターの範囲を見直してみてより広く検索結果が反映される様にしてみましょう。
- ナレッジベースを検索してみましょう。FAQにより、お客様をサポートいたします。
- ルネサスの技術スタッフやコミュニティからのヘルプをサポートフォーラムから受けられます。
No Results Found.
入力するワードを減らしてみたり、異なるワード、あるいはより一般的なワードを入力してみましょう。
フィルターを適用している場合、フィルターの範囲を見直してみてより広く検索結果が反映される様にしてみましょう。
- ナレッジベースを検索してみましょう。FAQにより、お客様をサポートいたします。
- ルネサスの技術スタッフやコミュニティからのヘルプをサポートフォーラムから受けられます。
フィルター
適用されたフィルター
ソフトウェア/ツール
タイプでの検索
プロバイダでの検索
サンプルコード
アプリケーションでの検索
ファンクションでの検索
コンパイラでの検索
IDE に関するフィルタリング
シミュレーションモデル
Partner Solutions
- PCB設計ファイル英語ZIP 328 KB virtex5mezpwrev1z_reva_artwork 2017年11月17日
- PCB設計ファイル英語PDF 98 KB virtex5mezpwrev1z_reva_schematics 2017年11月17日
- モデル-SPICE英語
No Results Found.
入力するワードを減らしてみたり、異なるワード、あるいはより一般的なワードを入力してみましょう。
フィルターを適用している場合、フィルターの範囲を見直してみてより広く検索結果が反映される様にしてみましょう。
- ナレッジベースを検索してみましょう。FAQにより、お客様をサポートいたします。
- ルネサスの技術スタッフやコミュニティからのヘルプをサポートフォーラムから受けられます。
- PCB設計ファイル英語ZIP 328 KB virtex5mezpwrev1z_reva_artwork 2017年11月17日
- PCB設計ファイル英語PDF 98 KB virtex5mezpwrev1z_reva_schematics 2017年11月17日
ソフトウェア/ツール (4)
No Results Found.
入力するワードを減らしてみたり、異なるワード、あるいはより一般的なワードを入力してみましょう。
フィルターを適用している場合、フィルターの範囲を見直してみてより広く検索結果が反映される様にしてみましょう。
- ナレッジベースを検索してみましょう。FAQにより、お客様をサポートいたします。
- ルネサスの技術スタッフやコミュニティからのヘルプをサポートフォーラムから受けられます。
- モデル-SPICE英語
シミュレーションモデル (1)
No Results Found.
入力するワードを減らしてみたり、異なるワード、あるいはより一般的なワードを入力してみましょう。
フィルターを適用している場合、フィルターの範囲を見直してみてより広く検索結果が反映される様にしてみましょう。
- ナレッジベースを検索してみましょう。FAQにより、お客様をサポートいたします。
- ルネサスの技術スタッフやコミュニティからのヘルプをサポートフォーラムから受けられます。
Rad Hard Virtex 5 FPGA Power Solution Reference Design
Renesas offers a complete solution for powering radiation hardened FPGAs. Many space-grade FPGAs require a core voltage of 1.0V, which is supplied by the ISL70002SEH, an auxiliary voltage of 2.5V, which is supplied by the ISL70001SEH, and an I/O voltage of 3.3V, which is supplied by the 続きを読む