特長
- Acceptance tested to 50krad(Si) (LDR) wafer-by-wafer
- ±1% reference voltage over line, temperature, and radiation
- Integrated MOSFETs 31mΩ PFET/21mΩ NFET
- 95% peak efficiency
- Externally adjustable loop compensation
- Supports DDR applications (VTT tracks VDDQ/2)
- Buffer amplifier for generating VREF voltage
- 3A current sinking capability
- Grounded lid eliminates charge build up
- IMON pin for output current monitoring
- Adjustable analog soft-start
- Diode emulation for increased efficiency at light loads
- 500kHz or 300kHz operating frequency synch wording
- Monotonic start-up into prebiased load
- Full military temperature range operation
- TA = -55°C to +125°C
- TJ = -55°C to +150°C
- Radiation tolerance
- High dose rate (50-300rad(Si)/s): 100krad(Si)
- Low dose rate (0.01rad(Si)/s): 100krad(Si)*
* Limit established by characterization. - SEE hardness
- SEB and SEL LETTH: 86.4MeV•cm2/mg
- SET at LET 86.4MeV•cm2/mg: < ±3% ΔVOUT
- SEFI LETTH: 60MeV•cm2/mg
- Electrically screened to DLA SMD 5962-14203
説明
Support is limited to customers who have already adopted these products.
The ISL70003SEH is a radiation and SEE hardened synchronous buck regulator capable of operating over an input voltage range of 3. 0V to 13. 2V. With integrated MOSFETs, this highly efficient single chip power solution provides a tightly regulated output voltage that is externally adjustable from 0. 6V to ~90% of the input voltage. Continuous output load current capability is 6A for TJ ≤ +125°C and 3A for TJ ≤ +150°C. The ISL70003SEH uses voltage mode control architecture with feed-forward and switches at a selectable frequency of 500kHz or 300kHz. Loop compensation is externally adjustable to allow for an optimum balance between stability and output dynamic performance. The internal synchronous power switches are optimized for high efficiency and excellent thermal performance. The chip features two logic-level disable inputs that can be used to inhibit pulses on the phase (LXx) pins in order to maximize efficiency based on the load current. The ISL70003SEH also supports DDR applications and contains a buffer amplifier for generating the VREF voltage. High integration, best in class radiation performance and a feature-filled design make the ISL70003SEH an ideal choice to power many of today's small form-factor applications.
アプリケーション
- FPGA, CPLD, DSP, CPU Core and I/O supply voltages
- DDR memory supply voltages
- Low-voltage, high-density distributed power systems
| Part Number | Status | Samples | Stock | RoHS | Package | Lead Count (#) | Carrier Type | Moisture Sensitivity Level (MSL) | Pkg. Dimensions (mm) | DLA SMD | Pb (Lead) Free | Pb Free Category | MOQ | Temp. Range (°C) | CAGE code |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| ISL70003SEHF/PROTO | Obsolete | N/A | Out of Stock | Contact | CQFP | 64# | Tray | Not Applicable | 14.1 x 14.1 x 2.29 | Exempt | Gold Plate over compliant Undercoat-e4 | 1 | -55 to +125°C | 34371 | |
| ISL70003SEHFE/PROTO | Obsolete | N/A | Out of Stock | Contact | CQFP | 64# | Tray | Not Applicable | 14.1 x 14.1 x 0.00 | Exempt | Gold Plate over compliant Undercoat-e4 | 1 | -55 to +125°C | 34371 | |
| ISL70003SEHVF | Obsolete | N/A | Out of Stock | Contact | CQFP | 64# | Tray | Not Applicable | 14.1 x 14.1 x 2.29 | 5962-14203 | Exempt | Gold Plate over compliant Undercoat-e4 | 25 | -55 to +125°C | 34371 |
| ISL70003SEHVFE | Obsolete | N/A | Out of Stock | Contact | CQFP | 64# | Tray | Not Applicable | 14.1 x 14.1 x 0.00 | 5962-14203 | Exempt | Gold Plate over compliant Undercoat-e4 | 25 | -55 to +125°C | 34371 |
| ISL70003SEHVX | Obsolete | N/A | Out of Stock | RoHS:EN RoHS:JA | DIE | 5962-14203 | No | 10 | -55 to +125°C | 34371 |
- モデル-iSim英語関連ファイル:
- ホワイトペーパー英語PDF 254 KB using-a-switching-regulator-as-vtt-terminator 2018年8月10日DDR memory adoption in satellite systems demands a robust VTT rail solution. The ISL70003SEH, a radiation-hardened sync buck regulator, meets this need with superior performance under all radiation conditions. Designed for VTT termination and VREF tracking, it enables DDR benefits in space without extra shielding or testing, ensuring reliable, class-leading power management for mission life.
- EOL通知英語PDF 297 KB PLC17007A 2017年2月21日
- レポート英語PDF 398 KB isl70003seh-neutron-test-report 2015年6月18日
- アプリケーションノート英語PDF 304 KB an1947 2009年1月05日AI生成コンテンツ: The document outlines important legal disclaimers and usage guidelines for semiconductor products. It emphasizes user responsibility for product design and safety, disclaims liability for damages from improper use, and restricts unauthorized modifications. Products are categorized into Standard and High Quality grades with specific application scopes. Users must comply with laws, regulations, and safety measures, especially for high-risk applications. Contact information for Renesas Electronics sales offices worldwide is provided.
- アプリケーションノート英語PDF 312 KB an1954 2007年2月02日AI生成コンテンツ: The document presents simulation and characterization results of the ISL70003SEH soft-start and load transient response under a 6A load, including inductor current, output voltage, and loop response curves. It includes detailed performance graphs comparing characterized and simulated data. Additionally, it outlines important legal notices and disclaimers regarding product use, liability, quality grades, safety responsibilities, environmental compliance, and export regulations. Contact information for Renesas Electronics sales offices worldwide is provided.
- アプリケーションノート英語PDF 583 KB an1915 2007年2月02日AI生成コンテンツ: The document presents simulation performance curves illustrating overcurrent and hiccup responses in inductor current and output voltage. It compares characterized and simulated responses, including loop response frequency characteristics. The notice section details Renesas Electronics’ disclaimers on product usage, liability, intellectual property rights, quality grades, safety responsibilities, environmental compliance, and legal restrictions. Contact information for global Renesas sales offices is also provided.
- アプリケーションノート英語PDF 338 KB an9867 1999年11月10日AI生成コンテンツ: Electrical parameters are monitored during life testing to detect drift and failures, defined by exceeding datasheet limits. New products require less than 1% failure during burn-in, with failure analysis and corrective actions if exceeded. Sampling plans ensure defect rates below 3%. Life tests last 1000-3000 hours at 125°C depending on process maturity. Failure mechanisms include electromigration, ionic contamination, hot carrier injection, and dielectric rupture. Product sign-off requires all parties' approval after reliability confirmation. Space products undergo burn-in and quality conformance inspections with strict failure limits. Derating is unnecessary as datasheet limits are set at 6-sigma from characterization data, ensuring reliability.
- アプリケーションノート英語PDF 224 KB an9654 1999年5月05日AI生成コンテンツ: The document explains the reliability and failure mechanisms of semiconductor parts, focusing on life testing and wearout. It discusses how switching states cause transient current pulses and hot carrier injection, which only occur briefly during switching. Life testing at elevated temperatures accelerates aging to remove infant mortality failures, improving reliability. The failure rate follows a bathtub curve with infant mortality, useful life, and wearout phases, modeled by lognormal and exponential distributions. The Arrhenius equation relates failure rates at different temperatures. Burn-in and life tests reduce early failures without harming intrinsic reliability.
推奨ドキュメント (1)
データシート (1)
マニュアル、ガイド (2)
- ホワイトペーパー英語PDF 254 KB using-a-switching-regulator-as-vtt-terminator 2018年8月10日DDR memory adoption in satellite systems demands a robust VTT rail solution. The ISL70003SEH, a radiation-hardened sync buck regulator, meets this need with superior performance under all radiation conditions. Designed for VTT termination and VREF tracking, it enables DDR benefits in space without extra shielding or testing, ensuring reliable, class-leading power management for mission life.
- アプリケーションノート英語PDF 304 KB an1947 2009年1月05日AI生成コンテンツ: The document outlines important legal disclaimers and usage guidelines for semiconductor products. It emphasizes user responsibility for product design and safety, disclaims liability for damages from improper use, and restricts unauthorized modifications. Products are categorized into Standard and High Quality grades with specific application scopes. Users must comply with laws, regulations, and safety measures, especially for high-risk applications. Contact information for Renesas Electronics sales offices worldwide is provided.
- アプリケーションノート英語PDF 312 KB an1954 2007年2月02日AI生成コンテンツ: The document presents simulation and characterization results of the ISL70003SEH soft-start and load transient response under a 6A load, including inductor current, output voltage, and loop response curves. It includes detailed performance graphs comparing characterized and simulated data. Additionally, it outlines important legal notices and disclaimers regarding product use, liability, quality grades, safety responsibilities, environmental compliance, and export regulations. Contact information for Renesas Electronics sales offices worldwide is provided.
- アプリケーションノート英語PDF 583 KB an1915 2007年2月02日AI生成コンテンツ: The document presents simulation performance curves illustrating overcurrent and hiccup responses in inductor current and output voltage. It compares characterized and simulated responses, including loop response frequency characteristics. The notice section details Renesas Electronics’ disclaimers on product usage, liability, intellectual property rights, quality grades, safety responsibilities, environmental compliance, and legal restrictions. Contact information for global Renesas sales offices is also provided.
- アプリケーションノート英語PDF 338 KB an9867 1999年11月10日AI生成コンテンツ: Electrical parameters are monitored during life testing to detect drift and failures, defined by exceeding datasheet limits. New products require less than 1% failure during burn-in, with failure analysis and corrective actions if exceeded. Sampling plans ensure defect rates below 3%. Life tests last 1000-3000 hours at 125°C depending on process maturity. Failure mechanisms include electromigration, ionic contamination, hot carrier injection, and dielectric rupture. Product sign-off requires all parties' approval after reliability confirmation. Space products undergo burn-in and quality conformance inspections with strict failure limits. Derating is unnecessary as datasheet limits are set at 6-sigma from characterization data, ensuring reliability.もっと見る (6)
アプリケーションノート、ホワイトペーパー (6)
- EOL通知英語PDF 297 KB PLC17007A 2017年2月21日
製品通知(PCN、EOLなど) (2)
No Results Found.
入力するワードを減らしてみたり、異なるワード、あるいはより一般的なワードを入力してみましょう。
フィルターを適用している場合、フィルターの範囲を見直してみてより広く検索結果が反映される様にしてみましょう。
- ナレッジベースを検索してみましょう。FAQにより、お客様をサポートいたします。
- ルネサスの技術スタッフやコミュニティからのヘルプをサポートフォーラムから受けられます。
No Results Found.
入力するワードを減らしてみたり、異なるワード、あるいはより一般的なワードを入力してみましょう。
フィルターを適用している場合、フィルターの範囲を見直してみてより広く検索結果が反映される様にしてみましょう。
- ナレッジベースを検索してみましょう。FAQにより、お客様をサポートいたします。
- ルネサスの技術スタッフやコミュニティからのヘルプをサポートフォーラムから受けられます。
No Results Found.
入力するワードを減らしてみたり、異なるワード、あるいはより一般的なワードを入力してみましょう。
フィルターを適用している場合、フィルターの範囲を見直してみてより広く検索結果が反映される様にしてみましょう。
- ナレッジベースを検索してみましょう。FAQにより、お客様をサポートいたします。
- ルネサスの技術スタッフやコミュニティからのヘルプをサポートフォーラムから受けられます。
No Results Found.
入力するワードを減らしてみたり、異なるワード、あるいはより一般的なワードを入力してみましょう。
フィルターを適用している場合、フィルターの範囲を見直してみてより広く検索結果が反映される様にしてみましょう。
- ナレッジベースを検索してみましょう。FAQにより、お客様をサポートいたします。
- ルネサスの技術スタッフやコミュニティからのヘルプをサポートフォーラムから受けられます。
No Results Found.
入力するワードを減らしてみたり、異なるワード、あるいはより一般的なワードを入力してみましょう。
フィルターを適用している場合、フィルターの範囲を見直してみてより広く検索結果が反映される様にしてみましょう。
- ナレッジベースを検索してみましょう。FAQにより、お客様をサポートいたします。
- ルネサスの技術スタッフやコミュニティからのヘルプをサポートフォーラムから受けられます。
No Results Found.
入力するワードを減らしてみたり、異なるワード、あるいはより一般的なワードを入力してみましょう。
フィルターを適用している場合、フィルターの範囲を見直してみてより広く検索結果が反映される様にしてみましょう。
- ナレッジベースを検索してみましょう。FAQにより、お客様をサポートいたします。
- ルネサスの技術スタッフやコミュニティからのヘルプをサポートフォーラムから受けられます。
マーケティング資料 (1)
- レポート英語PDF 398 KB isl70003seh-neutron-test-report 2015年6月18日
- 技術概要英語PDF 410 KB tb499 2011年6月16日
その他資料 (6)
No Results Found.
入力するワードを減らしてみたり、異なるワード、あるいはより一般的なワードを入力してみましょう。
フィルターを適用している場合、フィルターの範囲を見直してみてより広く検索結果が反映される様にしてみましょう。
- ナレッジベースを検索してみましょう。FAQにより、お客様をサポートいたします。
- ルネサスの技術スタッフやコミュニティからのヘルプをサポートフォーラムから受けられます。
フィルター
適用されたフィルター
ソフトウェア/ツール
タイプでの検索
プロバイダでの検索
サンプルコード
アプリケーションでの検索
ファンクションでの検索
コンパイラでの検索
IDE に関するフィルタリング
シミュレーションモデル
Partner Solutions
- シミュレータ日本語iSim Personal Edition(iSim:PE)は、プロジェクトの早い段階で設計サイクルを速め、プロジェクト初期のリスクを低減し、現在のみならず次世代の設計に耐えうる部品を選定します。
- モデル-iSim英語関連ファイル:
No Results Found.
入力するワードを減らしてみたり、異なるワード、あるいはより一般的なワードを入力してみましょう。
フィルターを適用している場合、フィルターの範囲を見直してみてより広く検索結果が反映される様にしてみましょう。
- ナレッジベースを検索してみましょう。FAQにより、お客様をサポートいたします。
- ルネサスの技術スタッフやコミュニティからのヘルプをサポートフォーラムから受けられます。
- シミュレータ日本語iSim Personal Edition(iSim:PE)は、プロジェクトの早い段階で設計サイクルを速め、プロジェクト初期のリスクを低減し、現在のみならず次世代の設計に耐えうる部品を選定します。
ソフトウェア/ツール (1)
No Results Found.
入力するワードを減らしてみたり、異なるワード、あるいはより一般的なワードを入力してみましょう。
フィルターを適用している場合、フィルターの範囲を見直してみてより広く検索結果が反映される様にしてみましょう。
- ナレッジベースを検索してみましょう。FAQにより、お客様をサポートいたします。
- ルネサスの技術スタッフやコミュニティからのヘルプをサポートフォーラムから受けられます。
- モデル-iSim英語関連ファイル:
シミュレーションモデル (2)
No Results Found.
入力するワードを減らしてみたり、異なるワード、あるいはより一般的なワードを入力してみましょう。
フィルターを適用している場合、フィルターの範囲を見直してみてより広く検索結果が反映される様にしてみましょう。
- ナレッジベースを検索してみましょう。FAQにより、お客様をサポートいたします。
- ルネサスの技術スタッフやコミュニティからのヘルプをサポートフォーラムから受けられます。
Radiation Hardened Power Solution for RTG4 FPGA
Over the last decade, satellites and spacecraft have seen an exponential increase in the need for onboard data processing and storage demands. Additionally, major satellite manufacturers have recently announced their latest satellites to be modular, fully digital, and capable of in-orbit... 続きを読む