特長
- This Circuit is Processed in Accordance to MIL-STD- 883 and is Fully Conformant Under the Provisions of Paragraph 1.2.1.
- Low Input Noise Voltage Density at 1kHz 6nV/√Hz (Max), 4.3nV/√Hz (Typ)
- Slew Rate 1V/µs (Min), 3V/µs (Typ)
- Unity Gain Bandwidth 8MHz (Typ)
- High Open Loop Gain (Full Temp) 100kV/V (Min), 250kV/V (Typ)
- High CMRR, PSRR (Full Temp) 86dB (Min), 100dB (Typ)
- Low Offset Voltage Drift 3µV/°C (Typ)
- No Crossover Distortion
- Standard Quad Pinout
説明
Low noise and high performance are key words describing the unity gain stable HA-5104/883. This general purpose quad amplifier offers an array of dynamic specifications including 1V/μs slew rate (min), and 8MHz bandwidth (typ). Complementing these outstanding parameters are very low noise specifications of 4. 3nV/√Hz at 1kHz (typ) or 6nV/√Hz (max). Fabricated using the Renesas standard high frequency D. I. process, these operational amplifiers also offer excellent input specifications such as 2. 5mV (max) offset voltage and 75nA (max) offset current. Complementing these specifications are 100dB (min) open loop gain and 55dB channel separation (min). Economically, the HA-5104/883 also consumes a very moderate amount of power (225mW per package) while also saving board space and cost. This impressive combination of features make this amplifier ideally suited for designs ranging from audio amplifiers and active filters to the most demanding signal conditioning and instrumentation circuits.
パラメータ
| 属性 | 値 |
|---|---|
| Rating | MIL-STD-883 |
| AVOL (dB) | 108 |
| Bandwidth (MHz) | 8 |
| Channels (#) | 4 |
| CMRR (dB) | 95 |
| IOUT (mA) | 1.5 |
| IS per Amp (mA) | 5 |
| Noise VN (nV/√Hz) | 4.3 |
| Offset Voltage (max) | 500µV |
| PSRR (db) | 100 |
| Rail-to-Rail Input/Output | No |
| Slew Rate (V/µs) | 3 |
| Supply Voltage (min) (V) | 5 - 5 |
| Supply Voltage (max) (V) | 18 - 18 |
| Temp. Range (°C) | -55 to +125°C |
| Flow | Harsh Environment & MIL-STD-883 |
| Qualification Level | Class Q |
| Die Sale Availability? | No |
| PROTO Availability? | No |
パッケージオプション
| Pkg. Type | Pkg. Dimensions (mm) | Lead Count (#) | Pitch (mm) |
|---|---|---|---|
| CERDIP | 19.3 x 7.3 x 0.00 | 14 | 2.5 |
アプリケーション
- High Q Active Filters
- Audio Amplifiers
- Integrators
- Signal Generators
- Instrumentation Amplifiers
| Part Number | Status | Samples | Stock | Package | Lead Count (#) | Carrier Type | Moisture Sensitivity Level (MSL) | Pb (Lead) Free | Pb Free Category | MOQ | Temp. Range (°C) | CAGE code |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| HA1-5104/883 | Active | Available | In Stock | CERDIP | 14# | Tube | Not Applicable | No | Hot Solder Dip | 200 | -55 to +125°C | 34371 |
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- アプリケーションノート英語PDF 263 KB r13an0003eu0100-biasing-op-amps 2019年12月06日AI生成コンテンツ: Proper biasing of operational amplifiers is essential to avoid malfunction in AC-coupled circuits. A missing DC bias path causes long stabilization times and potential failures. Adding input resistors to ground provides a DC path for bias currents, minimizing offset errors. For single-supply AC-coupled amplifiers, biasing uses a reference voltage, ideally from a high-PSRR voltage reference or buffered voltage divider, to maintain signal symmetry and reduce noise. Understanding frequency responses of input and feedback components is crucial for setting bandwidth and gain characteristics.
- 製品変更通知英語PDF 323 KB PCN15064 2015年12月22日
- 製品変更通知英語PDF 174 KB PCN14017 2014年4月21日
- 製品変更通知英語PDF 151 KB PCN11040 2011年4月07日
- アプリケーションノート英語PDF 357 KB an1694 2004年1月19日AI生成コンテンツ: The document outlines the four fundamental internal blocks of an operational amplifier and presents a simple 2:1 stage circuit diagram. It includes important legal notices from Renesas Electronics regarding the use, liability, and intellectual property rights of their semiconductor products. The document clarifies product quality grades, intended applications, and restrictions on use in life-critical or hazardous systems. It emphasizes compliance with applicable laws and safety responsibilities when using Renesas products. Contact information for Renesas sales offices worldwide is also provided.
- アプリケーションノート英語PDF 224 KB an9654 1999年5月05日AI生成コンテンツ: The document explains the reliability and failure mechanisms of semiconductor parts, focusing on life testing and wearout. It discusses how switching states cause transient current pulses and hot carrier injection, which only occur briefly during switching. Life testing at elevated temperatures accelerates aging to remove infant mortality failures, improving reliability. The failure rate follows a bathtub curve with infant mortality, useful life, and wearout phases, modeled by lognormal and exponential distributions. The Arrhenius equation relates failure rates at different temperatures. Burn-in and life tests reduce early failures without harming intrinsic reliability.
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- アプリケーションノート英語PDF 357 KB an1694 2004年1月19日AI生成コンテンツ: The document outlines the four fundamental internal blocks of an operational amplifier and presents a simple 2:1 stage circuit diagram. It includes important legal notices from Renesas Electronics regarding the use, liability, and intellectual property rights of their semiconductor products. The document clarifies product quality grades, intended applications, and restrictions on use in life-critical or hazardous systems. It emphasizes compliance with applicable laws and safety responsibilities when using Renesas products. Contact information for Renesas sales offices worldwide is also provided.
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