特長
- Electrically screened to DLA SMD 5962-96757
- High Voltage Type (20V Rating)
- Expansion to 8, 12, 16 4N Bits by Cascading Units
- Medium Speed Operation Compares Two 4-Bit Words in 250ns (Typ.) at 10V
- 100% Tested for Quiescent Current at 20V
- Standardized Symmetrical Output Characteristics
- 5V, 10V and 15V Parametric Ratings
- Maximum Input Current of 1µA at 18V Over Full Package Temperature Range; 100nA at 18V and +25°C
- Noise Margin (Full Package Temperature Range) 1V at VDD = 5V 2V at VDD = 10V 2.5V at VDD = 15V
- Meets All Requirements of JEDEC Tentative Standard No. 13B, "Standard Specifications for Description of 'B' Series CMOS Devices"
説明
CD4063BMS is a 4-bit magnitude comparator designed for use in computer and logic applications that require the comparison of two 4-bit words. This logic circuit determines whether one 4-bit word (Binary or BCD) is less than, equal to, or greater than a second 4-bit word. The CD4063BMS has eight comparing inputs (A3, B3, through A0, B0), three outputs (A < B, A = B, A > B) and three cascading inputs (A < B, A = B, A > B) that permit systems designers to expand the comparator function to 8, 12, 16. . . 4N bits. When a single CD4063BMS is used, the cascading inputs are connected as follows: (A < B) = low, (A = B) = high, (A > B) = low. For words longer than 4 bits, CD4063BMS devices may be cascaded by connecting the outputs of the less significant comparator to the corresponding cascading inputs of the more significant comparator. Cascading inputs (A < B, A = B, and A > B) on the least significant comparator are connected to a low, a high, and a low level, respectively.
アプリケーション
- Servo Motor Controls
- Process Controllers
| Part Number | Status | Samples | Stock | Package | Lead Count (#) | Carrier Type | Moisture Sensitivity Level (MSL) | DLA SMD | Pb (Lead) Free | Pb Free Category | MOQ | Temp. Range (°C) | CAGE code |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| CD4063BKMSR | Obsolete | N/A | Out of Stock | CFP | 16# | Tray | Not Applicable | 5962R9675701VXC | Exempt | Gold Plate over compliant Undercoat-e4 | 25 | -55 to +125°C | 34371 |
- 価格変更のお知らせ英語PDF 360 KB PIN19011 2019年4月10日
- 製品アドバイザリ英語PDF 499 KB PA11003 2011年1月05日
- 製品変更通知英語PDF 230 KB PCN10123 2010年12月06日
- アプリケーションノート英語PDF 224 KB an9654 1999年5月05日AI生成コンテンツ: The document explains the reliability and failure mechanisms of semiconductor parts, focusing on life testing and wearout. It discusses how switching states cause transient current pulses and hot carrier injection, which only occur briefly during switching. Life testing at elevated temperatures accelerates aging to remove infant mortality failures, improving reliability. The failure rate follows a bathtub curve with infant mortality, useful life, and wearout phases, modeled by lognormal and exponential distributions. The Arrhenius equation relates failure rates at different temperatures. Burn-in and life tests reduce early failures without harming intrinsic reliability.
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アプリケーションノート、ホワイトペーパー (1)
- 価格変更のお知らせ英語PDF 360 KB PIN19011 2019年4月10日
- 製品アドバイザリ英語PDF 499 KB PA11003 2011年1月05日
- 製品変更通知英語PDF 230 KB PCN10123 2010年12月06日
製品通知(PCN、EOLなど) (3)
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