特長
- Electrically screened to DLA SMD# 5962-14226
- Low input offset voltage: ±110µV, Max.
- Superb offset temperature coefficient: 1µV/°C, Max.
- Input bias current: ±15nA, Max.
- Input bias current TC ±5pA/°C, Max.
- Low current consumption: 440µA
- Voltage noise: 8nV/ÖHz
- Wide supply range: 10V (±5V) to 30V (±15V)
- Operating temperature range: -55 °C to +125 °C
- ISL70419SEH radiation acceptance testing
- High dose rate (50-300rad(Si)/s): 300krad(Si)
- Low dose rate (10mrad(Si)/s): 50krad(Si)
- ISL73419SEH radiation acceptance testing
- Low dose rate (10mrad(Si)/s): 50krad(Si)
- SEE hardness (see SEE report for details)
- SEL/SEB LETTH (VS = ±18V): 86.4MeV•cm2/mg
ISL73419SEH Block Diagram
説明
The ISL73419SEH contains four very high-precision amplifiers featuring the perfect combination of low noise vs. power consumption. Low offset voltage, low IBIAS current, and low temperature drift make it the ideal choice for applications requiring both high DC accuracy and AC performance. The combination of high precision, low noise, low power, and small footprint provides the user with outstanding value and flexibility relative to similar competitive parts.
Applications for these amplifiers include precision active filters, medical and analytical instrumentation, precision power supply controls, and industrial controls.
The ISL7x419SEH are offered in a 14 Ld hermetic ceramic flatpack package. These devices are offered in an industry-standard pin configuration and operate across the extended temperature range from -55 °C to +125 °C.
パラメータ
| 属性 | 値 |
|---|---|
| Rating | Space |
| AVOL (dB) | 129 |
| Bandwidth (MHz) | 1.5 |
| Channels (#) | 4 |
| CMRR (dB) | 120 |
| IOUT (mA) | 43 |
| IS per Amp (mA) | 0.44 |
| Noise VN (nV/√Hz) | 8 |
| Offset Voltage (max) | 110µV |
| PSRR (db) | 120 |
| Rail-to-Rail Input/Output | No |
| Slew Rate (V/µs) | 0.5 |
| Supply Voltage (min) (V) | 4.5 - 4.5 |
| Supply Voltage (max) (V) | 36 - 36 |
| Temp. Range (°C) | -40 to +85°C, -40 to +125°C, -55 to +125°C |
| TID LDR (krad(Si)) | 50 |
| DSEE (MeV·cm2/mg) | 86.4, SEL Free |
| Flow | RH Hermetic |
| Qualification Level | Class V, EM |
| Die Sale Availability? | Yes |
| PROTO Availability? | Yes |
アプリケーション
- Precision instrumentation
- Spectral analysis equipment
- Active filter blocks
- Thermocouples and RTD reference buffers
- Data acquisition
- Power supply control
| Part Number | Status | Samples | Stock | RoHS | Package | Lead Count (#) | Carrier Type | Moisture Sensitivity Level (MSL) | DLA SMD | Pb (Lead) Free | Pb Free Category | MOQ | CAGE code |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| ISL73419SEHF/PROTO | Active | Available | In Stock | Contact | CFP | 14# | Tray | Not Applicable | Exempt | Gold Plate over compliant Undercoat-e4 | 1 | 34371 | |
| ISL73419SEHVF | Active | N/A | Out of Stock | Contact | CFP | 14# | Tray | Not Applicable | 5962L1422603VXC | Exempt | Gold Plate over compliant Undercoat-e4 | 25 | 34371 |
| ISL73419SEHVX | Active | N/A | Out of Stock | RoHS:EN RoHS:JA | DIE | 5962L1422603V9A | No | 100 | 34371 | ||||
| ISL73419SEHX/SAMPLE | Active | N/A | Out of Stock | Contact | DIE | No | 5 | 34371 |
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- データシート英語ISL70419SEH, ISL73419SEH DatasheetRECOMMENDEDPDF 1.37 MB FN8653 2026年1月08日The ISL70419SEH and ISL73419SEH contain four very high-precision amplifiers featuring the perfect combination of low noise vs power consumption. This document describes the main design and operational characteristics of ISL7x419SEH devices, including pin information, specifications, functional description, and packaging.
- アプリケーションノート英語PDF 291 KB r13an0011eu-op-amps 2020年8月11日AI生成コンテンツ: Instrumentation amplifiers amplify small signals with precision, requiring careful noise analysis. Noise models range from detailed three-op-amp discrete designs to simplified integrated INA models using input-referred voltage noise. Noise sources include amplifier noise, source resistance thermal noise, and reference buffer noise. Calculations use gain, bandwidth, and noise spectral densities to determine total output noise. Noise reduction strategies involve bandwidth limitation via low-pass filters and optimizing reference buffer components. The dominant noise arises from the INA itself, which can be minimized by filtering and component selection.
- アプリケーションノート英語PDF 329 KB 2020年8月04日AI生成コンテンツ: Noise in operational amplifier circuits arises from random electron movements in semiconductors and thermal agitation in resistors. Noise voltage and current spectral densities from op-amp datasheets convert into RMS noise values to evaluate total circuit noise. Signal-to-noise ratio (SNR) and noise gain differ between inverting and non-inverting amplifiers. Noise sources combine quadratically. Op-amp noise includes 1/f and white noise components, modeled by equivalent input voltage and current noise sources. Thermal noise in resistors behaves as white noise with constant spectral density, influenced by temperature and resistance. Noise bandwidth increases due to filtering effects, impacting noise calculations in amplifier circuits.
- アプリケーションノート英語PDF 242 KB 2020年7月09日AI生成コンテンツ: Load cancellation enables precision operational amplifiers to drive heavy, low-impedance loads without compromising accuracy. By using a secondary high-current op-amp to generate a negative input resistance equal to the load, the precision amplifier effectively sees an open circuit, maintaining its performance while the secondary amplifier handles the load current. This method allows driving loads as low as 200Ω, significantly lower than what a precision op-amp can handle alone. The approach minimizes gain error and offset effects, ensuring stable and accurate operation. Practical implementation uses devices like the ISL28108 and EL5111, operating with ±5V supplies, demonstrating effective load cancellation and high precision under heavy load conditions.
- アプリケーションノート英語PDF 255 KB 2020年7月02日AI生成コンテンツ: High output current from precision operational amplifiers can be achieved by adding external transistor amplifiers without sacrificing precision. For single-supply applications, a simple NPN transistor boosts current, with considerations for base-emitter voltage variations and maximum output voltage compliance. Dual-supply applications use a Class B amplifier with NPN and PNP transistors to handle positive and negative signals, respectively. Negative feedback reduces crossover distortion but does not eliminate it completely. The document explains design equations, transistor characteristics, and practical circuit implementations for boosting op-amp output current effectively.
- アプリケーションノート英語PDF 255 KB r13an0008eu-op-amps 2020年6月22日
- アプリケーションノート英語PDF 263 KB r13an0003eu0100-biasing-op-amps 2019年12月06日AI生成コンテンツ: Proper biasing of operational amplifiers is essential to avoid malfunction in AC-coupled circuits. A missing DC bias path causes long stabilization times and potential failures. Adding input resistors to ground provides a DC path for bias currents, minimizing offset errors. For single-supply AC-coupled amplifiers, biasing uses a reference voltage, ideally from a high-PSRR voltage reference or buffered voltage divider, to maintain signal symmetry and reduce noise. Understanding frequency responses of input and feedback components is crucial for setting bandwidth and gain characteristics.
- その他資料英語PDF 223 KB r13zz0001eu-operational-amplifier 2019年10月01日
- モデル－その他英語OLB 7 KB isl70419seh-design-model-olb 2018年7月02日
- モデル－その他英語LIB 6 KB isl70419seh-design-model-lib 2018年7月02日
- アプリケーションノート英語PDF 338 KB an9867 1999年11月10日AI生成コンテンツ: Electrical parameters are monitored during life testing to detect drift and failures, defined by exceeding datasheet limits. New products require less than 1% failure during burn-in, with failure analysis and corrective actions if exceeded. Sampling plans ensure defect rates below 3%. Life tests last 1000-3000 hours at 125°C depending on process maturity. Failure mechanisms include electromigration, ionic contamination, hot carrier injection, and dielectric rupture. Product sign-off requires all parties' approval after reliability confirmation. Space products undergo burn-in and quality conformance inspections with strict failure limits. Derating is unnecessary as datasheet limits are set at 6-sigma from characterization data, ensuring reliability.
- アプリケーションノート英語PDF 224 KB an9654 1999年5月05日AI生成コンテンツ: The document explains the reliability and failure mechanisms of semiconductor parts, focusing on life testing and wearout. It discusses how switching states cause transient current pulses and hot carrier injection, which only occur briefly during switching. Life testing at elevated temperatures accelerates aging to remove infant mortality failures, improving reliability. The failure rate follows a bathtub curve with infant mortality, useful life, and wearout phases, modeled by lognormal and exponential distributions. The Arrhenius equation relates failure rates at different temperatures. Burn-in and life tests reduce early failures without harming intrinsic reliability.
- データシート英語ISL70419SEH, ISL73419SEH DatasheetRECOMMENDEDPDF 1.37 MB FN8653 2026年1月08日The ISL70419SEH and ISL73419SEH contain four very high-precision amplifiers featuring the perfect combination of low noise vs power consumption. This document describes the main design and operational characteristics of ISL7x419SEH devices, including pin information, specifications, functional description, and packaging.
推奨ドキュメント (1)
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- アプリケーションノート英語PDF 329 KB 2020年8月04日AI生成コンテンツ: Noise in operational amplifier circuits arises from random electron movements in semiconductors and thermal agitation in resistors. Noise voltage and current spectral densities from op-amp datasheets convert into RMS noise values to evaluate total circuit noise. Signal-to-noise ratio (SNR) and noise gain differ between inverting and non-inverting amplifiers. Noise sources combine quadratically. Op-amp noise includes 1/f and white noise components, modeled by equivalent input voltage and current noise sources. Thermal noise in resistors behaves as white noise with constant spectral density, influenced by temperature and resistance. Noise bandwidth increases due to filtering effects, impacting noise calculations in amplifier circuits.
- アプリケーションノート英語PDF 242 KB 2020年7月09日AI生成コンテンツ: Load cancellation enables precision operational amplifiers to drive heavy, low-impedance loads without compromising accuracy. By using a secondary high-current op-amp to generate a negative input resistance equal to the load, the precision amplifier effectively sees an open circuit, maintaining its performance while the secondary amplifier handles the load current. This method allows driving loads as low as 200Ω, significantly lower than what a precision op-amp can handle alone. The approach minimizes gain error and offset effects, ensuring stable and accurate operation. Practical implementation uses devices like the ISL28108 and EL5111, operating with ±5V supplies, demonstrating effective load cancellation and high precision under heavy load conditions.
- アプリケーションノート英語PDF 255 KB 2020年7月02日AI生成コンテンツ: High output current from precision operational amplifiers can be achieved by adding external transistor amplifiers without sacrificing precision. For single-supply applications, a simple NPN transistor boosts current, with considerations for base-emitter voltage variations and maximum output voltage compliance. Dual-supply applications use a Class B amplifier with NPN and PNP transistors to handle positive and negative signals, respectively. Negative feedback reduces crossover distortion but does not eliminate it completely. The document explains design equations, transistor characteristics, and practical circuit implementations for boosting op-amp output current effectively.
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