ルネサスの耐放射線特性電流センスアンプは、過電流障害検出、システムフィードバック制御、システム診断など、幅広い用途に優れた性能を発揮します。 このデバイスは、独自 PR40 SOI プロセスで製造され、業界をリードする電流検出精度を提供しつつ、航空宇宙環境で非常に高い信頼性の性能を提供します。

ドキュメント

タイトル language 分類 形式 サイズ 日付
アプリケーションノート、ホワイトペーパー
Wafer by Wafer Low Dose Rate Acceptance White Paper ホワイトペーパー PDF 533 KB
その他資料
Intersil Space Products Brochure カタログ PDF 3.14 MB
Intersil Commercial Lab Services カタログ PDF 364 KB

ニュース&各種リソース

分類 日付 昇順で並び替え
PR40 Process 基本ページ 2020年6月4日
Low Dose Rate Acceptance Testing 基本ページ 2020年3月25日
Standard Data Package 基本ページ 2020年3月19日
Rad Hard SMD Test Flow 基本ページ 2020年3月19日
Rad Hard Test Reports 基本ページ 2020年3月19日