IEC60730は，家庭用電化製品及び類似用途の機器に関連して使用する自動電気制御装置に適用する。IEC60730 Annex Hは、電子安全制御要件の設計、テストおよび診断方法を詳細に説明しており、燃焼装置などで特別な危険を防止するようにソフトウェア クラスCの要件も含めています。
ルネサスは、マイクロコントローラでIEC60730 ソフトウェアClass-Cの自己診断ができる項目に対して認証機関VDE、ULおよびTÜVラインランドより認証を取得した相関サンプルプログラムおよびアプリケーションノートを準備しております。
IEC60730 Class-Cで要求されるマイコンの診断箇所
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IEC60730 Class-Cで要求される診断項目および対応状況
RA＆RLでのIEC60730/60335の対応状況
| 規格番号・項目 | MCU診断箇所 | 検査すべきエラー・異常 | 箇所番号 | サポートMCUシリーズ | |||
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| RA6 series Cortex®-M33 | RA2 series Cortex-M23 | RL78 family G2x/G1x/F2x | |||||
| 1. CPU | 1.1 Registers | CPU Registers | Stuck | ① | S/Wで実現 | S/Wで実現 | S/Wで実現 |
| 1.2 Instruction decoding and execution | CPU Instructions | Stuck | S/Wで実現 | S/Wで実現 | S/Wで実現 | ||
| 1.3 Program counter | CPU Program Counter | Stuck | 独立IWDTで実現 | 独立IWDTで実現 | 独立IWDTで実現 | ||
| 3. Clock | Clock | Failure or Wrong frequency | ④ | CAC（クロック周波数精度測定回路）で実現 | CAC（クロック周波数精度測定回路）で実現 | TAU0チャネル1または5で実現 | |
| 4. Memory | 4.1 Invariable memory | ROM/Flash | All single-bit fault | ② | CRC-32&Multiple checksumで実現 | CRC-32&Multiple checksumで実現 | CCITT&Multiple checksumで実現 |
| 4.2 Variable memory | RAM | DC fault | ③ | S/Wで実現 | S/Wで実現 | S/Wで実現 | |
RXでのIEC60730/60335の対応状況
| 規格番号・項目 | MCU診断箇所 | 検査すべきエラー・異常 | 箇所番号 | サポートMCUシリーズ | |
|---|---|---|---|---|---|
| RX100 / RX200 / RX600 | |||||
| 1. CPU | 1.1 Registers | CPU Registers | DC fault | ① | S/Wで実現 |
| 1.2 Instruction decoding and execution | CPU Instructions | Wrong decoding and execution | S/Wで実現 | ||
| 4. Memory | 4.1 Invariable memory | ROM | 99.6% coverage of all information errors | ② | S/WとCRCモジュールで実現 （Data Flash は非対象） |
| 4.2 Variable memory | RAM | DC fault and dynamic cross links | ③ | S/Wで実現 | |
| 4.3 Addressing | ROM/RAM | DC fault | ②③ | S/Wで実現 | |
| 5. Internal data path | 5.1 Data | ROM/RAM | DC fault | ②③ | S/Wで実現 |
| 5.2 Addressing | ROM/RAM | Wrong address and multiple addressing | ②③ | S/Wで実現 | |
関連アプリケーションノート / サンプルコード
RAでのIEC60730/60335認証
| MCU | アプリケーションノート | サンプルコード | 統合開発環境/コンパイラ | Certificate |
|---|---|---|---|---|
| RA2 (RA2L1, RA2E1) | RA2 MCUのためのIEC60730/60335セルフテスト･ライブラリ (CM23 Class-C) (PDF | English, 日本語) | RA2 MCUのためのIEC60730/60335セルフテスト･ライブラリ (CM23 Class-C) - RA2E1サンプルコード (ZIP | English, 日本語) *e2 studio版 | e2 studio/GCC | RA2 Class C VDE Certificate (PDF) (注1) |
| RA2 MCUのためのIEC60730/60335セルフテスト･ライブラリ (CM23 Class-C) - RA2L1サンプルコード (ZIP | English, 日本語) *e2 studio版 | ||||
| RA6 (RA6M4, RA6M5, RA6E1) | RA MCUのためのIEC60730/60335セルフテスト･ライブラリ (CM33 Class-C) (PDF | English, 日本語) | RA MCUのためのIEC60730/60335セルフテスト･ライブラリ (CM33 Class-C) (ZIP | English, 日本語) *e2 studio版 | e2 studio/GCC | RA6 Class C VDE Certification (PDF) (注1) |
RLでのIEC60730/60335認証
| MCU | アプリケーションノート | サンプルコード | 統合開発環境/コンパイラ | Certificate |
|---|---|---|---|---|
| RL78 (G14, L1C, L13, G23, F24) | RL78 MCUのためのIEC60730/60335セルフテスト・ライブラリ (PDF | English, 日本語) | RL78 MCUのためのIEC60730/60335セルフテスト・ライブラリe² studio版 (ZIP | English, 日本語) | e2 studio/CC-RL | RL78 Class C VDE Certificate (PDF) (注1) |
| RL78 MCUのためのIEC60730/60335セルフテスト・ライブラリCS+版 (ZIP | English, 日本語) | CS+/CC-RL |
注1: VDEによるIEC60730/60335版です。
RXでのIEC60730/60335認証
| MCU | アプリケーションノート | サンプルコード | 総合開発環境/コンパイラ | Certificate |
|---|---|---|---|---|
| RX (RX130, RX13T, RX140, RX230, RX231, RX23E-A/B, RX23T, RX23W, RX24T/U, RX260, RX261, RX26T, RX64M, RX651, RX65N, RX660, RX66N, RX66T, RX671, RX71M, RX72M, RX72N, RX72T) | 弊社営業/代理店までお問合せ下さい。(注2) | CC-RX | 認証番号 968/FSP 2651.04/25 (注3) | |
注2：原則RXマイコンの使用実績もしくは使用見込みのある方が対象となります。提供に当たり、弊社にて提供可否の審査を行い、場合によりご提供をお断りすることがあります。
注3：TUVラインランドの認証データベースサイトにて認証内容を確認できます。
UL60730は北米で制定された機能と安全性の規格基準です。Class Cは、下記のURLでUL No.を入力して、検索できます。
http://database.ul.com/cgi-bin/XYV/template/LISEXT/1FRAME/index.html
| MCU Family | Series | UL No. |
|---|---|---|
| RL | RL78/G14, RL78/L1C, RL78/G23, RL78/F24 | E537266 |
| RA | RA2E1, RA2L1 | E537266 |