The ISL70444SEH features four low-power amplifiers optimized to provide maximum dynamic range. This operational amplifier (op amps) features a unique combination of rail-to-rail operation on the input and output as well as a slew enhanced front-end that provides ultra fast slew rates positively proportional to a given step size, thereby increasing accuracy under transient conditions, whether it's periodic or momentary. The ISL70444SEH also offers low power, low offset voltage, and low-temperature drift, making it ideal for applications requiring both high DC accuracy and AC performance. With <5µs recovery for Single Event Transients (SET) (LETTH = 86. 4MeV•cm2/mg), the number of filtering components needed is drastically reduced. The ISL70444SEH is also immune to single event latch-up because it is fabricated using the Renesas proprietary PR40 Silicon On Insulator (SOI) process. The amplifier is designed to operate over a single supply range of 2. 7V to 40V or a split supply voltage range of ±1. 35V to ±20V. Applications for this amplifier include precision instrumentation, data acquisition, precision power supply controls, and process controls. The ISL70444SEH are available in a 14 Ld hermetic ceramic flatpack and die forms that operate across the temperature range of -55°C to +125°C.

特長

  • Electrically screened to DLA SMD# 5962-13214
  • Acceptance tested to 50krad(Si) (LDR) wafer-by-wafer
  • <5µs recovery from SEE (LETTH = 86.4MeV•cm2/mg)
  • Unity gain stable
  • Rail-to-rail input and output
  • Wide gain·bandwidth product: 19MHz
  • Wide single and dual supply range: 2.7V to 40V max
  • Low input offset voltage: 400µV
  • Low current consumption (per amplifier): 1.1mA, typ
  • No phase reversal with input overdrive
  • Slew rate - Large signal: 60V/µs
  • Operating temperature range: -55°C to +125°C
  • Radiation acceptance (see TID report)
    • High dose rate (50-300rad(Si)/s): 300krad(Si) (ISL70444SEH only)
    • Low dose rate (0.01rad(Si)/s): 50krad(Si)
  • SEE hardness (see SEE report for details)
    • SEB LETTH (VS = ±21V): 86.4MeV•cm2/mg
    • SEL immune (SOI Process)

アプリケーション

  • Precision instruments
  • Active filter blocks
  • Data acquisition
  • Power supply control
  • Process control

製品選択

製品名 Part Status Pkg. Type Carrier Type MOQ DLA SMD 購入/サンプル
Active CFP Tray 1
Availability
Active CFP Tray 1 5962F1321401VXC
Availability
Active 100 5962F1321401V9A
Availability

ドキュメント&ダウンロード

タイトル language 分類 形式 サイズ 日付
データシート
ISL70444SEH, ISL73444SEH Datasheet データシート PDF 1.85 MB
ユーザーガイド、マニュアル
ISL70444SEHEVAL1Z User Guide マニュアル PDF 794 KB
アプリケーションノート、ホワイトペーパー
How to Bias Op-Amps Correctly アプリケーションノート PDF 263 KB
AN1920: Reducing Power Dissipation with Saturated Outputs アプリケーションノート PDF 433 KB
Wafer by Wafer Low Dose Rate Acceptance White Paper ホワイトペーパー PDF 533 KB
AN1867: ISL70444SEH SPICE Macro-Model アプリケーションノート PDF 428 KB
AN9867: End of Life Derating: A Necessity or Overkill アプリケーションノート PDF 338 KB
PCN / PDN
PCN17028 - Electrical Specification Change to Standard Microcircuit Drawing 5962-13214 for Intersil Product ISL70444SEH* 製品変更通知 PDF 398 KB
ダウンロード
ISL70444SEH-ISL70244SEH PSPICE Model モデル ZIP 2.51 MB
ISL70444SEHEVAL1Z Design Files 設計ファイル ZIP 1.99 MB
その他資料
Intersil Space Products Brochure カタログ PDF 3.14 MB
PA18014 - Product Advisory for ISL70x44 Products - Overconsumption Product Advisory PDF 263 KB
Standard Microcircuit Drawing 5962-13214 (ISL70444SEH, ISL73444SEH) その他資料 0 KB
ISL70444SEH Temperature Calculator ライブラリ XLSX 170 KB
TB516: Investigation of HTOL Effects on ISL70444SEH when Biased as a Railed Buffer 技術概要 PDF 291 KB
ISL70444SEH SEE Test Report レポート PDF 5.82 MB
ISL70444SEH Neutron Test Report レポート PDF 323 KB
ISL70444SEH Total Dose Test Report レポート PDF 417 KB
Intersil Commercial Lab Services カタログ PDF 364 KB

ボード&キット

製品名 タイトル 分類 Company
ISL70444SEHEVAL1Z Rad Hard 40V Quad Op Amp Evaluation Board 評価 Renesas

ニュース&各種リソース

分類 日付 昇順で並び替え
Low Dose Rate Acceptance Testing 基本ページ 2020年3月25日
Radiation Tolerant Plastic-Package ICs 基本ページ 2020年3月20日
Standard Data Package 基本ページ 2020年3月19日
Rad Hard SMD Test Flow 基本ページ 2020年3月19日
Rad Hard Test Reports 基本ページ 2020年3月19日