
近年、自動電子制御システムはさまざまな用途に拡大しており、信頼性と安全性に対する要求はシステム設計における重要な要素となりつつあります。家電製品についても「家庭電化製品向けのIEC60730 安全規格」の制定により、安全で信頼性の高い動作を保証する自動電子制御を設計する必要があります。
その中でも、MCUをベースとする制御システムの設計に非常に重要で、以下のような自動電子制御の3つのソフトウェア分類があります。
クラスA
機器の安全性が意図されていない制御機能
例:ルーム・サーモスタット、湿度コントローラ、照明コントローラ、タイマ、スイッチ
クラスB
被制御機器の安全でない動作を防止するように設計されている制御機能
例:洗濯設備用のサーマル・カットオフおよびドア・ロック
クラスC
特別な危険を防止するように設計されている制御機能
密閉型機器用の自動バーナー制御およびサーマル・カットオフ
RL78ファミリ、RX100/200/600シリーズにおけるIEC60730 クラスBに対応したアプリケーションノートおよびサンプルプログラムを準備しております。
本アプリケーションノートおよびサンプルプログラムを使用することで、ユーザーの最終製品での認証取得をサポートします。
規格番号・項目 | MCU診断箇所 | 検査すべき エラー・異常 |
サポートMCUシリーズ | ||||
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RL78 | RX100/200/600 | S5D9 | RA2 (Arm® Cortex®-M23) RA4 (Arm® Cortex®-M33, Arm® Cortex®-M4) RA6 (Arm® Cortex®-M33, Arm® Cortex®-M4) |
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1. CPU | 1.1 Registers | CPU Registers | Stuck | S/Wで実現 | S/Wで実現 | S/Wで実現 | S/Wで実現 |
1.3 Programme counter | CPU Program Counter | Stuck | 独立IWDTで実現 | 独立IWDTで実現 | 独立IWDTで実現 | 独立IWDTで実現 | |
2. Interrupt handling and execution | Interrupt unit | No interrupt or too frequent interrupt | S/Wで実現 | S/Wで実現 | S/Wで実現 | S/Wで実現 | |
3. Clock | Clock | Failure or Wrong frequency | TAU0チャネル1または5で実現 | CAC(クロック周波数精度測定回路)で実現 | CAC(クロック周波数精度測定回路)で実現 | CAC(クロック周波数精度測定回路)で実現 | |
4. Memory | 4.1 Invariable memory | ROM/Flash | All single bit fault | 汎用/高速CRCで実現 | 汎用CRCで実現 | 汎用CRCで実現 | 汎用CRCで実現 |
4.2 Variable memory | RAM | DC fault | S/Wで実現 | S/Wで実現 | S/Wで実現 | S/Wで実現 | |
6. External Communication | 6.1 Data | Communication port | Failure or not accurate | 汎用CRCで実現 | 汎用CRCで実現 | 汎用CRCで実現 | 汎用CRCで実現 |
7. Input/output periphery | 7.1 Digital I/O | Input/Output Port | Stuck or not accurate | 出力設定時の端子状態リード機能で実現 | 独立した入力レジスタと出力レジスタで実現 | 独立した入力レジスタと出力レジスタで実現 | 独立した入力レジスタと出力レジスタで実現 |
7.2 Analog I/O | Analog Circuit | Failure or not accurate | ADテスト機能で実現 | ADテスト機能で実現 | ADテスト機能で実現 | ADテスト機能で実現 |
注1:サンプルコードのプロジェクトはHEW版となっています。
注2:UL60730 北米で制定された機能と安全性の規格基準です。
注3:VDEによるIEC60730版です。UL60730は、下記URLで検索できます。
http://database.ul.com/cgi-bin/XYV/template/LISEXT/1FRAME/index.htm
Company nameにrenesasと入力してください。
注4:本項目は、旧バージョンのセルフテスト・ライブラリです。
弊社で証明書を取得したものですので、掲載しています。
旧バージョンのライブラリを継続使用されているお客様向けのアプリケーションノートとサンプルコードです。
注5:本項目は、セルフテスト・ライブラリを新規にご使用されるお客様向けのアプリケーションノートとサンプルコードです。
ルネサスの静電容量タッチキー(CTSUおよびCTSU2)は、専用ソフトウェアで自身の内部回路を診断することが可能です。詳細は、静電容量タッチキー向け機能安全ソリューションをご参照ください。
タイトル | 分類 | 日付 | |
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関連ファイル: RAファミリ RA MCUのためのIEC60730/60335セルフテスト・ライブラリ (CM33) | サンプルコード
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関連ファイル: RAファミリ RA MCUのためのIEC60730/60335セルフテスト・ライブラリ(CM4_CM23) | サンプルコード
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関連ファイル: RL78 MCUのためのIEC60730/60335セルフテスト・ライブラリCCRL78 アプリケーションノート Rev.2.10 | サンプルコード
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関連ファイル: RX200 Series VDE Certified IEC60730 Self Test Code for RX200 Series MCU - Sample Code (r01an0950eg0103), サンプルコード | アプリケーションノート
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ZIP3.75 MB 関連ファイル: RX200シリーズ VDE認証 RX200シリーズ MCUのIEC60730セルフテストコード Rev.1.02
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サンプルコード
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ZIP1.38 MB 関連ファイル: RX100 Series VDE Certified IEC60730 Self Test Code Rev.1.00
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サンプルコード
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ZIP3.55 MB 関連ファイル: RL78 Family VDE Certified IEC60730/60335 Self Test Library (R01AN0749EG0201)
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サンプルコード
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関連ファイル: RX62T グループ RX62T グループMCU のIEC60730 セルフテストコード Rev.1.00 | サンプルコード
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タイトル | 分類 | 日付 | |
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関連ファイル: サンプルコード | アプリケーションノート
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関連ファイル: サンプルコード | アプリケーションノート
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関連ファイル: サンプルコード | アプリケーションノート
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PDF886 KB 関連ファイル: サンプルコード
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アプリケーションノート
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PDF1.42 MB 関連ファイル: サンプルコード
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アプリケーションノート
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関連ファイル: サンプルコード | アプリケーションノート
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レポート
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レポート
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レポート
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レポート
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レポート
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PDF1.15 MB
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レポート
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PDF1.16 MB
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レポート
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関連ファイル: RX200 Series VDE Certified IEC60730 Self Test Code for RX200 Series MCU - Sample Code (r01an0950eg0103), サンプルコード | アプリケーションノート
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