The Intersil HCTS20MS is a Radiation Hardened Dual 4-Input NAND Gate. A low on any input forces the output to a High state. The HCTS20MS utilizes advanced CMOS/SOS technology to achieve high-speed operation. This device is a member of radiation hardened, high-speed, CMOS/SOS Logic Family. The HCTS20MS is supplied in a 14 lead Ceramic flatpack (K suffix) or a SBDIP Package (D suffix).

特長

  • 3 Micron Radiation Hardened SOS CMOS
  • Total Dose 200K RAD (Si)
  • SEP Effective LET No Upsets: >100 MEV-cm2/mg
  • Single Event Upset (SEU) Immunity < 2 x 10-9 Errors/Bit-Day (Typ)
  • Dose Rate Survivability: >1 x 1012 RAD (Si)/s
  • Dose Rate Upset >1010 RAD (Si)/s 20ns Pulse
  • Latch-Up Free Under Any Conditions
  • Military Temperature Range: -55°C to +125°C
  • Significant Power Reduction Compared to LSTTL ICs
  • DC Operating Voltage Range: 4.5V to 5.5V
  • LSTTL Input Compatibility
  • VIL = 0.8V Max
  • VIH = VCC/2 Min
  • Input Current Levels Ii ≤ 5µA at VOL, VOH

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製品名 Part Status Pkg. Type Carrier Type DLA SMD 購入/サンプル
Active CFP Tray 5962R9573301VXC
Availability

descriptionドキュメント

タイトル language 分類 形式 サイズ 日付
データシート
star HCTS20MS Datasheet データシート PDF 369 KB
アプリケーションノート、ホワイトペーパー
Wafer by Wafer Low Dose Rate Acceptance White Paper ホワイトペーパー PDF 533 KB
AN9867: End of Life Derating: A Necessity or Overkill アプリケーションノート PDF 338 KB
AN9654: Use of Life Tested Parts アプリケーションノート PDF 224 KB
PCN / PDN
PA11003 - Packing Method Change for Intersil TO-xx Metal Can and Flat Pack Packaged Products Product Advisory PDF 499 KB
PCN10123 - Alternate Die Attach Material for Assembly of Intersil Hermetic Packaged Products - Intersil Palm Bay, FL. (ISP) 製品変更通知 PDF 230 KB
その他資料
Intersil Space Products Brochure カタログ PDF 3.14 MB
PIN19011 - Price Increase for the Listed Renesas Electronics America (REA) Radiation Hardened Space Products Price Increase Notice PDF 360 KB
Standard Microcircuit Drawing 5962-95733 (HCTS20MS) その他資料 0 KB
Intersil Commercial Lab Services カタログ PDF 364 KB

printニュース&各種リソース

分類 日付 昇順で並び替え
Low Dose Rate Acceptance Testing 基本ページ 2020年3月25日
Standard Data Package 基本ページ 2020年3月19日
Rad Hard SMD Test Flow 基本ページ 2020年3月19日
Rad Hard Test Reports 基本ページ 2020年3月19日